1.概述
1.1 适用范围
本测试方案主要针对SIP模块。如无特殊说明，DUT均指上述被测PCBA。
1.2 系统概述
测试软件采用JTAG.NET开发版开发，测试执行通过K1149a完成。
1.3 被测板描述
DUT由一片SA8155芯片及其外挂的2片LPDDR4组成，另外，DUT上还包含2片PMIC PMM8155用于提供各种电源。SA8155其他接口由位于DUT底部的BGA焊盘引出。DUT整体框图如下图所示：
2. 边界扫描测试扫描链设计
本方案采用BSI对DUT进行测试。SA8155的各功能引脚中，绝大部分有边界扫描单元，故通过BSI对其进行覆盖能够得到较高的测试覆盖率，测试效果良好。
本方案测试系统的整体结构如下图所示：
测试系统由K1149a测试主机及测试工具板组成。
测试工具板通过导电胶与DUT进行连接，实现DUT的电源供电、测试信号连接及测试激励/响应的处理。
导电胶与工具板及DUT之间的接触方式如下图所示：
导电胶与固定在测试工具板上的导向座配合，实现DUT的定位，在DUT上施加一定的压力后，即可实现各BGA焊盘与测试工具板之间的可靠接触。
测试工具板根据DUT的供电需求，应提供DUT所需的所有电源种类，并按照DUT上电要求进行供电处理。
DUT的JTAG信号由测试工具板转接至K1149a测试仪表的TAP控制器，同时，测试工具板上对应的测试对接工具BS设备也由K1149a进行控制。
在测试工具板上与DUT对接的各信号，应按照DUT的电气要求完成对接，包括电平转换/阻抗匹配等。
DUT上PMIC的各路电源输出，在测试工具板上通过ADC芯片进行测试。
详细的测试工具板设计需基于DUT Datasheet并参考现有产品底板设计完成。
3 JTAG链路设计
本测试方案共设计2路TAP控制器，其中TAP1控制测试工具板上的BS设备；TAP2控制DUT。
4 测试覆盖分析
从SA8155的BSDL文件可以看出，芯片为绝大部分功能引脚均提供了边界扫描控制单元(共计442个)，包括PCIe、GPIO、QLINK、CSI、DSI等。
未提供边界扫描控制单元的引脚包括USB2.0接口、WiFi接口及少量模拟/时钟信号
DUT的其他信号（主要是PMIC的各路电源输出），在测试工具板上通过ADC模块进行电压测量，实现测试覆盖。
经分析，DUT引脚覆盖率94.32%。
未覆盖的信号主要包括SA8155中不包含边界扫描单元的引脚即PMIC部分引脚。PMIC芯片由于不是边界扫描芯片，无法通过边界扫描进行直接控
制，其通讯控制接口SPMI无测试dummy，部分信号无法覆盖。
5 物料BOM清单
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